LED組件快速溫度循環試驗箱

LED組件快速溫度循環試驗箱是適用于LED模組、模塊、燈珠、燈絲、燈帶等產品，用于進行溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗和應力篩選試驗。該設備符合MIL-STD、IEC、JIS等國際測試規范，滿足led產品溫度循環測試及溫度沖擊的國際標準，如JEDEC、IPC、MIL、ISO、AEC等。

技術參數：

溫度循環試驗的特點：

1. 可以根據不同的測試規范要求，選擇空氣溫度控制或待測品表面溫度控制。

2. 可以選擇合適的升降溫溫變率，如等均溫或平均溫。

3. 可以分別設定升溫和降溫的溫變率偏差。

4. 可以設定升降溫的過溫偏差，以符合規范要求。

5. 溫度循環和溫度沖擊測試都可以選擇表面溫度控制。

試驗概述：

多通道LED老化電源與環境試驗箱通過專用老化排線連接。老化排線一端采用36P連接器，插入程控電源的輸出接口，另一端為金手指結構，經由試驗箱進線孔引入箱體內部，并固定安裝于高溫老化治具上。

在進行老化測試時，僅需將老化板插接至試驗箱內的金手指接口，并設置相應的試驗參數，即可啟動老化試驗過程。

所需測試條件均可在電腦上完成，可實時記錄存儲測試數據，提示有超范圍的測試工位。

如有LED組件快速溫度循環試驗箱的選型疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。