固態硬盤高低溫循環試驗箱的試驗實例

為了測試SSD固態硬盤的“軟件讀寫性能測試”，在測試過程中，需要使用高低溫循環試驗箱和常溫存放H2test校驗測試，為了讓大家了解固態硬盤的高低溫讀寫性能，接下來我們為大家講述該方法的主要過程。

SSD固態硬盤高低溫讀寫性能：

試驗設備：環儀儀器 固態硬盤高低溫循環試驗箱

測試軟件：BurnInTest、H2test

測試環境：高溫75℃/低溫-10℃

測試樣品：某品牌SSD固態硬盤

測試過程：

測試開始前，設置程序，先升溫到75℃，持續12小時，然后逐漸降溫至-10℃，持續12小時，共經歷3次循環，合計72小時。經過72小時的高低溫循環后，PassMark BurnInTest的判定通過。

說明SSD在72小時的高溫和低溫的循環下，能夠進行正常的滿載傳輸，按照電腦正常滿載運作，CPU溫度達到60℃時會出現卡頓現象，但能夠在75℃高溫或者-10℃低溫下穩定進行滿載工作。

此外，為了檢測產品內部是否有產生壞塊，用來專業檢測固態硬盤壞塊的軟件H2testw進行常溫下48小時滿盤寫入+校驗，目的這是為了檢測在如此苛刻條件下，硬盤是否會產生壞塊的情況。

以上就是固態硬盤的高低溫循環試驗過程，如對試驗有疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。