光電器件高加速濕熱試驗箱的試驗技術因素

光電器件在使用光電器件高加速濕熱試驗箱做測試過程中，由于高溫高濕的原因，會受到不同的失效情況，為了加速光電器件的吸濕速率以及縮短試驗時間，可使用加速試驗設備(光電器件高加速濕熱試驗箱)來進行相關試驗，也就所謂的(退化失效期、損耗期)試驗。下面，我們來了解一下試驗過程中的一些技術因素。

高加速濕熱試驗技術因素：

試驗設備：環儀儀器 光電器件高加速濕熱試驗箱

影響因素：

1.濕氣所引起的故障原因：水汽滲入、聚合物材料解聚、聚合物結合能力下降、腐蝕、空洞、線焊點脫開、引線間漏電、芯片與芯片粘片層脫開、焊盤腐蝕、金屬化或引線間短路。

2.水汽對電子封裝可靠性的影響：腐蝕失效、分層和開裂、改變塑封材料的性質。

3.故障模式：起泡(Blister)、斷裂(Crack)、止焊漆剝離(SR de-lamination)。

4.腐蝕失效與IC：腐蝕失效(水汽、偏壓、雜質離子)會造成IC的鋁線發生電化學腐蝕，而導致鋁線開路以及遷移生長。

5.加速鋁腐蝕的因素：

①樹脂材料與芯片框架接口之間連接不夠好(由于各種材料之間存在膨脹率的差異)

②封裝時，封裝材料摻有雜質或者雜質離子的污染(由于雜質離子的出現)

③非活性塑封膜中所使用的高濃度磷

④非活性塑封膜中存在的缺陷

討論產品壽命時，一般采用[θ10℃法則]的表達方式，簡單的說明可以表達為[10℃規則]，當周圍環境溫度上升10℃時，產品壽命就會減少一半；當周圍環境溫度上升20℃時，產品壽命就會減少到四分之一。這種規則可以說明溫度是如何影響產品壽命(失效)的，相反的產品的可靠度試驗時，也可以利用升高環境溫度來加速失效現象發生，進行各種加速壽命老化試驗。

以上就是光電器件高加速濕熱試驗箱的試驗技術影響，如有疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。