《YD/T 2152-2010 光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》標準

YD/T 2152-2010《光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》是一項中華人民共和國通信行業(yè)標準，規(guī)定了光纖活動連接器的可靠性要求和相應的試驗方法。

一、范圍：
本標準規(guī)定了光纖活動連接器可靠性要求的相關術語和定義、分類、試驗項目、產(chǎn)品的壽命試驗項目要求、結構及材料的可靠性試驗項目要求等，并規(guī)定了各項可靠性要求的試驗條件、試驗方法及評定標準。

本標準適用于所有類型和型號的光纖活動連接器。

二、試驗項目：
高低溫試驗、溫度循環(huán)試驗、加濕溫度循環(huán)試驗、振動試驗、碰撞試驗、鹽霧試驗等。

三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗機、振動試驗機、碰撞試驗臺等。

四、設備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

高溫老化

a)試驗條件
溫度:+85℃;
持續(xù)時間:168h;

普通要求不需要在線記錄測試數(shù)據(jù)，加嚴要求在間隔時間點記錄測試數(shù)據(jù)。

b）程序

1）普通要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里，溫度85℃，保持恒溫168h。試驗結束后，以規(guī)定的速率將溫度降至室溫，停留2h后，測試并記錄插入損耗和回波損耗。

2）加嚴要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里,在試樣的兩端分別接入光源和光功率計，如圖3所示。以規(guī)定的時間升溫，直至+85℃，保持恒溫168h。加嚴要求恒溫時間可依據(jù)產(chǎn)品使用要求，試驗時間可延長至500h、1000h和2000h。試驗結束后，以規(guī)定的速率將溫度降至室溫，停留2h后，測試并記錄插入損耗和回波損耗。

c）試驗后，樣品不得有機械損傷，如變形、龜裂、松弛等現(xiàn)象，參數(shù)變化量應符合5.3.7節(jié)要求。